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IC器件測試插座

產品簡介

GU41-10B320-T200 IC器件測試插座(高頻測試插座)GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距),適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座。

產品型號:GU41-10B320-T200
更新時間:2025-04-14
廠商性質:代理商
訪問量:1486
詳細介紹
品牌其他品牌應用領域電子/電池

GU41-10B320-T200

      IC器件測試插座示意圖

      IC器件測試插座、高頻測試插座

  GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
  適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座
  1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值
  -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間
  短-溫度范圍(典型值)
  -40至+150℃(典型值)


  [可接受的器件]
  FTGB196(賽靈思)
  256針FBGA(英特爾)
  FT256/FTG256(賽靈思)
  FG256/FGG256(賽靈思)
  FG320/FGG320(賽靈思)


  [可接受的器件]
  FTGB196(賽靈思)
  256針FBGA(英特爾)
  FT256/FTG256(賽靈思)
  FG256/FGG256(賽靈思)
  FG320/FGG320(賽靈思)


  GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
  適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座
  1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值
  -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間
  短-溫度范圍(典型值)
  -40至+150℃(典型值)

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